DIN V VDE V 0126-18-2-4-2007 太阳能硅片.第2-4部分:硅片几何尺寸的测量.锯痕和步进式锯痕
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时间:2024-05-23 22:58:16
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【英文标准名称】:Solarwafers-Part2-4:Measuringthegeometricdimensionsofsiliconwafers-Sawmarksandsteptypesawmarks
【原文标准名称】:太阳能硅片.第2-4部分:硅片几何尺寸的测量.锯痕和步进式锯痕
【标准号】:DINVVDEV0126-18-2-4-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:结晶体;定义;深度;深度测量;圆盘;电气工程;凹槽;测量;测量仪器;测量技术;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能技术;步进式锯痕
【英文主题词】:Crystalline;Definitions;Depth;Depthmeasurement;Disks;Electricalengineering;Grooves;Measurement;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Steps;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:太阳能硅片.第2-4部分:硅片几何尺寸的测量.锯痕和步进式锯痕
【标准号】:DINVVDEV0126-18-2-4-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:结晶体;定义;深度;深度测量;圆盘;电气工程;凹槽;测量;测量仪器;测量技术;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能技术;步进式锯痕
【英文主题词】:Crystalline;Definitions;Depth;Depthmeasurement;Disks;Electricalengineering;Grooves;Measurement;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Steps;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:德语
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