ANSI/IEEE 641-1987 金属氮氧化物半导体排列的定义和性能
作者:标准资料网
时间:2024-05-16 01:42:52
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【英文标准名称】:DefinitionsandCharacterizationsofMetal-Nitride-Oxide-SemiconductorArrays
【原文标准名称】:金属氮氧化物半导体排列的定义和性能
【标准号】:ANSI/IEEE641-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;晶体管;电子仪器;半导体;特性
【英文主题词】:transistors;electronicinstruments;electronicequipmentandcomponents;characteristics;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:金属氮氧化物半导体排列的定义和性能
【标准号】:ANSI/IEEE641-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;晶体管;电子仪器;半导体;特性
【英文主题词】:transistors;electronicinstruments;electronicequipmentandcomponents;characteristics;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:
【正文语种】:英语
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